Detection of defects in a transparent polymer with high resolution tomography using white light scanning interferometry and noise reduction - Laboratoire Energétique Mécanique Electromagnétisme Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Detection of defects in a transparent polymer with high resolution tomography using white light scanning interferometry and noise reduction

Audrey Leong-Hoï
  • Fonction : Auteur
R. Claveau
  • Fonction : Auteur
M. Flury
  • Fonction : Auteur
Laboratoire Hubert Curien
W. Uhring
  • Fonction : Auteur
Institut d'Electronique du Solide et des Systèmes
Bruno Serio
  • Fonction : Auteur
Laboratoire Energétique Mécanique Electromagnétisme
Freddy Anstotz
  • Fonction : Auteur
Paul C. Montgomer
  • Fonction : Auteur

Mots clés

Rayonnement

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

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https://hal.parisnanterre.fr/hal-01421667

Soumis le : jeudi 22 décembre 2016-16:27:30

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:03

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Dates et versions

hal-01421667 , version 1 (22-12-2016)

Identifiants

Citer

Audrey Leong-Hoï, R. Claveau, M. Flury, W. Uhring, Bruno Serio, et al.. Detection of defects in a transparent polymer with high resolution tomography using white light scanning interferometry and noise reduction. Proceedings of SPIE Optical Metrology, 22 June 2015, Jun 2015, Munich, Germany. pp.952807--952807--12, ⟨10.1117/12.2184559⟩. ⟨hal-01421667⟩

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