Communication Dans Un Congrès
Année : 2015
Administrateur HAL Nanterre : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.parisnanterre.fr/hal-01421667
Soumis le : jeudi 22 décembre 2016-16:27:30
Dernière modification le : mercredi 13 novembre 2024-03:23:32
Citer
Audrey Leong-Hoï, R. Claveau, M. Flury, W. Uhring, Bruno Serio, et al.. Detection of defects in a transparent polymer with high resolution tomography using white light scanning interferometry and noise reduction. Proceedings of SPIE Optical Metrology, 22 June 2015, Jun 2015, Munich, Germany. pp.952807--952807--12, ⟨10.1117/12.2184559⟩. ⟨hal-01421667⟩
Collections
37
Consultations
0
Téléchargements